PXI-4130源测量单元是美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）推出的一款高性能测试设备。以下是关于PXI-4130源测量单元的详细介绍：
基本信息
- 品牌：美国国家仪器有限公司（National Instruments）
- 型号：PXI-4130
- 类型：源测量单元（SMU）
- 应用领域：自动测试系统、半导体测试、电子设备器件验证等
技术规格
- 电压范围：±20 V
- 电流范围：多个电流范围可选，最低可达1 nA的测量分辨率
- 功率：
- 在象限I和象限III中，源极功率高达40 W
- 在象限II和象限IV中，漏极功率高达10 W
- 输出特性：
- 包含（4线）遥感的四象限输出
- 提供一个额外的功能性通道，可作为16位的电压或电流源使用，也可提供等精度的测量功能
- 该输出提供6 V电压和1 A电流，可用作SMU通道的备用电源
- 封装与尺寸：安装于单槽3U PXI模块
功能特点
- 可编程性：PXI-4130是一款可编程的源测量单元，支持多种测试需求。
- 高精度：高精度电源设计，提供低达1 nA的测量分辨率，适用于需要高精度测量的应用。
- 多通道并行测试：在单个PXI机箱中，可同时使用多达17个PXI-4130模块，实现17路源测量单元通道和17路可编程电源通道的并行测试。
- 灵活性：支持恒压源模式和恒流源模式运行，并具有可设置的钳位限制（compliance limit）。
- 遥感功能：可启用SMU通道上的遥感功能，针对高精度应用，实现待测设备上电压输出/测量精度的最大化。
应用场景
- 半导体测试：用于半导体器件的电气特性测试，如I-V特性曲线测试、漏电流测试等。
- 电子设备验证：在电子设备的设计和验证阶段，用于测试设备的电气性能和稳定性。
- 科研与教育：在科研领域和教育机构中，用于教学和科研实验中的数据采集和分析。
